GB/T 20919-2007 电子数显外径千分尺

1范围

本准规定了电子数显外径千分尺上的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。

本标准适用于分辨力高于或等于0.001 mm，量程小于或等于30 mm，测量范围上限至500 mm的电子数显外径千分尺（以下简称“电子数显千分尺”）。

2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

GB/T 1800.4-1999极限与配合标准公差等级和孔、轴的极限偏差表(eqv IS0 286-2：1988)

GB/T 2423.3-1993  电工电子产品基本环境试验规程  试验Ca：恒定湿热试验方法

(eqvIEC 60068-2-3:  1984)

GB/T 2423.22-2002  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验N：温度变化

(IEG 60068-2-14:  1984,  Basic environmental testing procedures Part 2:Tests-Test N:  Change oftem-perature．IDT)

GB 4208-1993  外壳防护等级（IP代码）(eqv IEC 529：1989)

GB/T 17163几何量测量器具术语基本术语

GB/T 17164几何量测量器具术语产品术语

GB/T 17626.2-1998  电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(idt IEC 61000-4-2：1995)

GB／T 17626.3-1998  电磁兼容  试验和测量技术  射频电磁场辐射抗扰度试验(idtIEC 61000-4-3:  1995)

3术语和定义
GB/T 17163和GB/T 17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

3.1
电子数显千分尺数显装置  electronic digitalindicating devices for micrometer
利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简称“电子数显装置”。

3.2
最大允许误差( MPE)  maxlmum permissible error
由技术规范、规则等对电子数显千分尺规定的误差极限值。

4型式与基本参数
4.1型式
电子数显干分尺的型式见图1所示。图示仅侠图解说明，不表示详细结构。

4.2基本参数
4.2.1  电子数显千分尺测微螺杆的螺距宜为0.5 mm或1 mm。

4.2.2电子数显千分尺的量程宜为25 mm或30 mm。

4.2.3  电子数显千分尺的测量范围的下限宜为0或25 mm的整数倍。

5要求
5.1  外观
5.1.1  电子数显千分尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。

5.1.2  电子数显千分尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。

5.1.3  电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁、无划痕、气泡等影响读数的缺陷。

5.2材料
5.2.1  尺架应选择钢、可锻铸铁或其他性能类似的材料制造。

5.2.2测微螺杆和测砧应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造；测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料。

5.3尺架
5.3.1  尺架应具有足够的刚性。当尺架沿测微螺杆轴线方向作用10 N的力时，其变形量不应大于表1的规定。

5.3.2尺架上宜安装隔热装置。

5.4测微螺杆和测砧

5.4.1  测微螺杆伸出尺架的光滑圆柱部分的公称直径宜选择6.5 mm、7.5 mm或8.0 mm。

5.4.2  电子数显千分尺在达到测量上限时，其测微螺杆伸出尺架的长度不应小于3 mm。

5.4.3测砧伸出尺架的长度不应小于3 mm。

5.5相互作用
5.5.1  测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合，配合良好，不应出现卡滞和明显窜动。

5.5.2测微螺杆伸出尺架的光滑圆柱部分与轴套之间的配合应良好，不应出现明显摆动。

5.6测力装置
电子数显干分尺应具有测力装置。通过测力装置移动测微螺杆，并作用到测微螺杆测量面与球面接触的测量力应在5 N～10N之间，测量力变化不应大于2N。

5.7测量面
5.7.1  测量面应经过研磨，其边缘应倒钝，其平面度误差不应大于0.3 um。