JB/T 10033-1999 测微头
3.2测微头测量范围为0～15mm，0～25mm，0～50mm。
3.3固定套管的刻度数字，除了特别规定以外，应参照表1的规定。
3.4测微头根据需要允许无测力装置。
4技术要求
4.1测微头上不得有影响使用的外部缺陷。
4.2相互作用
4.2.1测微头测微螺杆的移动应平稳，无卡滞现象。
4.2.2对带计数器的测微头，当旋转测微螺杆时，计数器应按顺序进位，其传动零部件的转动应平稳，无阻滞现象。各字码偏离中心位置应不大0.3mm。
4.2.3测微头的轴向和径向间隙应不大于0.01mm。
4.3零位的正确性
4.3.1测微头零位应能准确、可靠地调整。
4.3.2对零位时，II型、Ⅳ型测微头游标刻线的零刻线和尾刻线与微分简上相应刻线的重合度应不大于表2的规定。
4.11具有测力装置的测微头，当测量面与球面接触时其测力为6—10N，测力变化应不大于2N 。
4.12测微头测量面平面度公差、测量面相对测微螺杆轴线的垂直度公差见表3的规定。
4.13测微头在量程范围内的移动偏差应不大于表4的规定。
4.14测微头应附有调整零位的工具。
5检验规则
检验方法见附录A（标准的附录）。
6标志和包装
6.1测微头上应标志：
a)制造厂厂名或注册商标；
b)产品序号；
c)分度值。
6.2测微头的包装盒上应标志：
a)制造厂厂名或注册商标；
b)产品名称；
c)测量范围。
6.3测微头在包装前应经防锈处理，并妥善包装，不得因包装不善而在运输中损坏产品。
6.4测微头经检验符合本标准要求的应附有产品合格证。产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂日期。
4.4根据需要可以要求测微头制成回程误差不大于0.001mm。
4.5对III型测微头，计数器的读数值与测微头上的指示值之差值应不大于0.003mm。
4.6测微头固定套管的纵刻线、游标刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15～0.20mm。其相应刻线宽度差应不大于0.03mm。
4.7对I型、II型、Ⅲ型、V型测微头，微分筒锥面棱边至固定套管纵刻线表面的距离不大于0.4mm。对Ⅳ型测微头，微米游标与微分筒刻线面连接处轴向间隙不大于0.1mm，两刻线面高度差不大于0.03mm。
4.8测微头微分筒和微米游标的锥面的端面至固定套管毫米刻线和半毫米刻线的距离，允许压线不大于0.05mm，离线不大于0.01mm。
4.9测微头测量面应镶硬质合金，测微螺杆硬度应不低于664HV(～58HRC)。根据需要，测量面允许不镶硬质合金，硬度应不低于766HV (～62HRC)。
4.10测微头测量面的表面粗糙度Ra值为0.04um。
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