JB/T 8371-1996 容栅线位移测量系统 数显单元0.01mm

发布时间:2012-05-19 作者:可立德商城 点击: ...


5.2外观要求
数显单元的外表面应平整,清洁;显示器应无划痕、漏液、裂纹等现象,功能符号清晰明确;副栅应平整,无表面缺陷,无凹坑、划痕、锈蚀,触点应灵活可靠。


5.3副栅平面度
副栅平面的平面度:不大于0.02mm。


5.4显示
扭曲向列型液晶显示器,可显示5或6位数字及“一”、“,”等符号。液晶显示器所有显示笔划应完整、清晰,数字高度不小于4mm,在数显单元外壳各个方向施加10N压力时,所显示的字符都应完整无畸变。


5.5基本功能
5.5.1具备显示屏显示全零,使测量零点可任意设定的功能。


5.5.2具备当供电电压低于告警电压时,数显单元的液晶显示器出现周期性闪烁显示,提醒用户更新电池的功能。


5.5.3根据用户需要,可以具备其他特定功能。


5.6示值误差
数显单元的示值误差应不大于0.02mm。


5.7重复性
数显单元的重复性应不大于0.01mm。


5.8工作电流
数显单元的工作电流不大于22uA。


5.9极限移动速度
极限移动速度不小于1.5m/s。


5.10示值漂移
在th内,示值允许变化一个字。


5.11触点寿命
数显单元的触点寿命不少于10000次。


6试验方法
6.1样品预处理


6.1.1  预处理条件
温度:20~25℃;
相对湿度:40%~55%RH;
大气压强:86~106kPa。


6.1.2预处理方法
将无包装的样品在上述条件下搁置4h。给样品加电,样品应符合5.2~5.11的规定。


6.2数显单元的温度交变试验按GB 2423.22的Nb。


6.2.1试验循环见图2。


6.2.2在标准大气条件下,恢复时间为16h。


6.2.3最后检测按附录A(标准的附录)的规定进行。


6.3数显单元的恒定湿热试验按GB 2423.3。


6.3.1试验持续时间为48h。


6.3.2在条件试验中不进行电性能测试。


6.3.3最后检测按附录A的规定进行。


6.4数显单元的振动试验按GB 2423.10。


6.4.1  频率范围:5~70~5Hz。


6.4.2振幅:10mm。


6.4.3持续时间:20min。


6.4.4最后检测按附录A的规定进行。


6.5  数显单元的冲击试验按GB 2423.5。


6.5.1脉冲波形为半正弦波。


6.5.2峰值加速度为15×9.8m/s^2,脉冲持续时间为11ms。


6.5.3冲击方向为X、Y两个互相垂直轴线的方向,冲击次数每个方向为三次。


6.5.4最后检测按附录A的规定进行。


7检验规则
7.1产品按附录A逐件逐项检验合格方可出厂。


7.2定型试验:产品至少随机抽样50件,按第5章、第6章及附录A规定要求进行试验和检验,应符合要求。


8标志和包装
8.1  数显单元上应标志:
a)制造厂厂名或注册商标;
b)产品序号。


8,2数显单元包装箱上应标志:
a)制造厂厂名或注册商标;
b)产品名称;
c)示值范围;
d)产品数量。


8.3数显单元应加防静电包装,并妥善置于包装箱内,保证在运输过程中不得损坏产品。


8.4数显单元应有产品合格证,该证应标有标准号、产品序号、生产日期。



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