JB/T 10009-2010 测量台架

发布时间:2012-05-19 作者:可立德商城 点击: ...

1  范围
本标准规定了测量台架的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志和包装等。


本标准适用于装夹分度值不小于0.05um的比较仪(或比较仪的传感元件)的测量台架。


2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。


GB/T 17164几何量测量器具术语产品术语


3术语和定义
GB/T 17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。


3.1
测量台架  measuring stand
由水平工作台、立柱及支臂等组成,用于装夹各种测微仪(比较仪)及相应传感元件的器具。又称为比较仪座。


4型式与基本参数


4.1  测量台架的型式见图1~图4所示。图示仅作图解说明,不表示详细结构。
a)I型测量台架:适用于分度值为0.05 um~0.5 um的比较仪;
b)Ⅱ型测量台架:适用于分度值为1um~5 um的比较仪;
c)Ⅲ型测量台架:适用于分度值为1um~lo um的比较仪;
d)Ⅳ型测量台架:适用于分度值为10 um或大于10 um的比较仪。



4.2测量台架的基本参数见表1的规定。


5要求
5.1  外观
测量台架表面不应有锈斑、划痕、毛刺等缺陷,镀、涂层表面不得有脱落、起泡和明显影响外观的色泽不均等缺陷。


5.2相互作用
5.2.1  测量台架各紧固部分应锁紧牢固可靠,各转动部分应灵活、平稳,无卡滞现象。


5.2.2放置在1级平板上时应平稳,不应有晃动。


5.3微调
5.3.1  I型、Ⅱ型和Ⅲ型测量台架可带有微调装置。


5.3.2无微调装置的测量台架,紧固螺钉锁紧时引起的变化量在垂直方向上不应大于0.03 mm。


5.4工作面表面硬度、表面粗糙度和材料


5.4.1  测量台架工作面的表面硬度不应低于713 HV。


5.4.2测量台架工作面的表面粗糙度Ra值见表2的规定。


5.4.3测量台架工作面的材料:GCr15钢、花岗岩石或同等性能的材料。


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